奧林巴斯BX53M自動清潔度檢測分析系統 一機多用，還可用于觀察金相組織，鋁合金孔隙率分析 奧林巴斯BX53M自動清潔度檢測儀是最早為清潔度檢測提供標準的企業。產品具有廣泛的代表性和專業性，標準化，測定結果可追溯等優勢。
簡要描述：
奧林巴斯BX53M自動清潔度檢測分析系統
一機多用，還可用于觀察金相組織，鋁合金孔隙率分析奧林巴斯BX53M自動清潔度檢測儀是較早為清潔度檢測提供標準的企業。產品具有廣泛的代表性和專業性，標準化，測定結果可追溯等優勢。
清潔度檢測的標準步驟：
系統描述
相確儀器自動清潔度檢測系統是精密設計的零部件清潔度分析系統，對過濾紙的殘留粒子進行檢測，重要的是能對工件的清潔程度進行可靠和再現性的評估。
全自動清潔度分析系統會自動將顆粒分為以下三類：
金屬顆粒：通常是最關注的，并且是最關鍵的顆粒。
非金屬顆粒，不含纖維：這些顆粒和金屬顆粒一樣是關鍵性污染物顆粒。
纖維：這些顆粒在測試的準備和操作過程中是無法避免的。因此，即使有時候纖維是濾膜上最大的顆粒，其關注度也是相對不高。
將顆粒預分為三類,可減少手動操作的工作量,并且較大限度的關注所有與實際操作相關的顆粒。
通過偏振鏡機構對濾膜進行二次掃描，并實現對濾膜上金屬和非金屬顆粒 的統計和鑒別。 針對塑料、玻纖等同樣會產生反射的物體，系統會自動將其與金屬顆粒區分開，此方法有效的回避了被誤判為金屬顆粒的風險。
對于尼龍網格編織膜的掃描數據表現同于其他表面濾膜的掃描數據，結果不受網格影響。
檢測顆?！?um
本設備設計參考理論依據
1、ISO 16232/VDA19對顆粒屬性定義。
2、ISO 16232/VDA19分辨率定義。
系統組成
光學系統：BX53M研究級光學顯微鏡。
電動平臺：高精度配套電動三軸平臺（可選配）。
成像裝置：高清圖像掃描CCD（可選配CMOS USB3.0）。
分析軟件：清潔度專業系統分析軟件，具有智能化高，工作流程化設計模式，操作簡便，采集圖像快速高效，自動補償聚焦確保每幀圖像清晰，無縫拼接瀏覽，智能識別統計，按照選擇標準生成結果及報告。
（替代原BX51M清潔度檢測系統）
系統功能
對不同尺寸的標準濾紙進行高精度掃描分析，并結合奧林巴斯的偏光光闌技術對顆粒進行反光和非反光的區分，以對金屬與非金屬顆粒的判定提供最直接的參考數據和影像。同時可依據不同長寬比的設定對纖維與非纖維進行精確分類，并能計算濾膜上纖維的總長度，
對于粘結顆?？稍趯嶋H視場下進行確認并采用數碼分割法進行分割，以確保實際判斷的準確性。分析軟件流程化簡潔化，報告可導出WORD，自動保存在數據庫目錄下。圖片自動保存在數據庫，可追溯，可自動定位到每張圖片所在視場，自動設別金屬、非金屬、纖維顆粒。分析過程全部按照ISO16232，VDA19等標準執行，滿足大眾、寶馬、通用、福特等各大汽車廠清潔度檢測標準，支持用戶自定義標準。
系統優點
① 該套設備自動掃描分析并輸出報告，操作人員只需要將參數設置好即可。
② 操作界面流程化，無其他繁瑣操作。掃描時間短，成像效果好。
③ 自動統計顆?？倲?、金屬、非金屬、纖維數量。
④ 自動區分金屬顆粒、非金屬顆粒、纖維。
⑤ 自動聚焦，即使濾膜表面不平整也可以掃描分析。
⑥ 自動掃描拍照，掃描過程中實時可見。
⑦ 系統對每個顆粒進行編號，顆?？蓪崟r查詢。
⑧ 滿足 ISO16232、VDA19、ISO4406、ISO4407、NAS1638、GB/T20082、GB/T 14039等標準，并且支持客戶自定義標準。
⑨ 預留拓展接口，增加相應的配件可做金相分析、孔隙率分析。
⑩ 報告模板多樣化，用戶可自行選擇相對應的報告模板，包含統計數據、評級、濾片全貌圖、最大顆粒照片等信息。
? 檢測顆?！?um
? 系統支持高度測量和三維形貌:大顆粒高度測量，典型顆粒的三維形貌圖。
? 軟件終身免費升級服務
自動清潔度檢測系統性能
· 圖像捕獲:具有高分辨率實時彩色圖像捕獲能力，可以實時動態捕獲圖像序列，并自動拼接成一張完整的濾膜全貌圖片，顆粒無明顯錯位，保證分析精度。
· 高精度全新智能聚焦模式，保證每一張圖片清晰度。
· 可以縮小放大，實時觀察大圖中任意地方的局部放大圖，也可以全圖觀察?？苫乜慈魏我粋€顆粒。
· 一鍵流程化設計。
· 圖像標定:根據光學放大倍數定標圖像，為圖像測量提供測量基準。
· 動態設定分析閾值:為以后全圖分析提供提取目標的依據。
· 標準自定義加入:內置ISO16232/VDA19標準，用戶可以根據需要加入不同的分析標準，或選擇已有標準進行分析。軟件支持現行多種標準進行分析。金屬、非金屬、纖維區分，按照ISO16232/VDA19等國際標準統計分析。
· 自動檢測分辨出微粒類型（金屬、非金屬、纖維）
· 評價參數（長度、寬帶、面積、纖維最大長度）
· 根據不同的測量任務分別來設置和儲存相應的配置
· 方便導出所有分析數據到EXCEL至數據庫
· 按照標準ISO 16232 計算工件清潔度代碼(CCC)
· 有效微粒處理（例如重疊微粒）,掃描結果可手動修改，可切分或關聯任意形狀的顆粒。
| 光學顯微鏡 | 物鏡 | · 物鏡轉盤： · 有5孔和6孔可選，高配為電動。 · 標配物鏡： · 5X，用于用于觀察10微米以下的顆粒物。 · 10X，用于觀察大于2.5微米的顆粒物。 選配： 2.5X，用于預覽或檢測10微米以上顆粒。 20X，用于高度測量。 |
| 光源類型 | 高亮度長壽命恒溫LED.可實現反光和非反光顆粒物探測的照片。 | |
| 目視場 | 寬視野，屈光度可調，瞳距可調 | |
| 觀察方法 | 明、暗場可選，偏振光 | |
| 光強管理 | 不同觀察和倍率保證適宜的溫度 | |
| 調焦機構 | 行程25mm，微調刻度1um， | |
| 最大樣品高度 | 65mm | |
| 掃描平臺 | 三軸自動掃描平臺 | 高精度高穩定性掃描臺，分辨率最大可達0.01um，可重復性<1um。 可使用三軸控制器控制，也可以通過軟件控制。 |
| 攝像頭 | 高清成像裝置 | 真色彩高像素幀率塊的CCD攝像頭（有CMOS可選） |
| 清潔度軟件 | 全自動清潔度分析軟件包 | 可控制顯微鏡：物鏡轉換和攝像頭等。 |
| 可控制X\Y\Z三軸平臺 | ||
| 支持相關標準，并滿足清潔度VDA和ISO等要求。具備實時成像、拍照、測量、分析、出具專業報告功能。 | ||
| 電腦 | 工作站電腦 | 工作站主板，正版軟件。規格配置可選配。 |
| 比例尺 | 校準比例尺 | 攝像頭比例尺校準塊 |
| 樣品校準快 | 清潔度顆粒校準塊 | 清潔度顆粒校準塊 |
1、高速運行的部件，防止污染物阻擋運行。如缸體、變速箱、軸承、曲軸、凸輪軸、活塞、渦輪增壓器、電機內的定子和轉子等；
2、液壓部件，防止污染物阻塞油路通道。如ABS、ESB，轉向系統，液壓油管，泵閥等；
3、燃油系統，防止堵塞噴油嘴。如火花塞、噴油嘴、燃油系統等；
4、電路電子系統，防止造成電路的短路。如電子線路板、電池線路等；
5、公差嚴格的部件，防止污染物或殘留物影響公差。如ABS\ESB，動力轉向系統等。
